Площини Відбиття – Reflection Planes

These special types of Probe object are suited to smooth planar surfaces. They basically capture the whole scene with a flipped camera.

Використовування площин відбиття є дійсно важким у ході рендера, оскільки сцена потребує бути рендереною стільки разів, скільки в огляді є Площин Відбиття.

Допоки не увімкнено Screen Space Reflection, Reflection Planes працюють лише на блікових поверхнях, що мають для них шорсткість близько 0.

If Screen Space Reflection is enabled, Reflection Planes will serve as support buffers. This accelerates the tracing process and completes the missing data from the view space. This also make reflection more correct for the affected surfaces that have medium roughness and disturbed normals (i.e. normal maps).

Примітка

Subsurface Scattering, Screen Space Reflections та Volumetrics не підтримуються всередині відбиття Reflection Plane.

Placement – Розміщення

Якщо відкид тилу Backface Culling не увімкнено, то підхоплювання Reflection Plane до планарної поверхні буде ефективно захоплювати зворотну сторону поверхні.

You can manually move the Reflection Plane above the surface enough for it to not appear in the capture. Alternatively you can put a floor object inside a collection and use this collection as a Visibility Collection (inverted) inside the Reflection Plane’s probe settings.

Reference – Довідка

Panel – Панель

«Дані Об’єкта > Проба» – Object Data ‣ Probe

Distance – Відстань

A probe object only influences the lighting of nearby surfaces. This influence zone is defined by the Distance parameter and object scaling. The influence distance varies is a bit, depending on the probe type.

For Reflection Planes the influence distance is the distance from the plane. Only surfaces whose normals are aligned with the Reflection Plane will receive the captured reflection.

Falloff – Спад

Відсоток відстані впливу, протягом якого вплив проби зникає лінеарно. Also defines how much shading normals needs to be aligned with the plane to receive reflections.

Зсув Відсікання – Clipping Offset

Define how much below the plane the near clip is when capturing the scene. Increasing this can fix reflection contact problems.

Колекція Видимості – Visibility Collection

In some cases, it is useful to limit which objects appear in the light probe’s captured lighting. For instance, an object that is too close to a capture point might be better excluded. This is what the visibility collection does. Only objects that are in this collection will be visible when this probe will capture the scene.

Існує також варіант інвертування цієї поведінки та ефективного ховання об’єктів всередині цієї колекції.

Примітка

This is only a filtering option. That means that if an object is not visible at render time it won’t be visible during the probe render.

Примітка

Due to a limitation, dupli-objects cannot be hidden by using this option.

Viewport Display – Показ Оглядвікна

Reference – Довідка

Panel – Панель

«Дані Об’єкта > Показ Оглядвікна» – Object Data ‣ Viewport Display

Influence – Вплив

Show the influence bounds in the 3D Viewport.

Розмір Стрілки – Arrow Size

Розмір стрілки, що показує нормаль площини відбиття.

Показ Площини Передогляду – Show Preview Plane

Show the captured reflected image onto a fully reflective plane in the 3D Viewport.