Площини Відбиття – Reflection Planes

Це спеціальні типи об’єкта типу Probe підхожі для гладких планарних поверхонь. Вони базово захоплюють всю сцену за допомогою перевернутої камери.

Використовування площин відбиття є дійсно важким у ході рендера, оскільки сцена потребує бути рендереною стільки разів, скільки в огляді є Площин Відбиття.

Допоки не увімкнено Screen Space Reflection, Reflection Planes працюють лише на блікових поверхнях, що мають для них шорсткість близько 0.

If Screen Space Reflection is enabled, Reflection Planes will serve as support buffers. This accelerates the tracing process and completes the missing data from the view space. This also make reflection more correct for the affected surfaces that have medium roughness and disturbed normals (i.e. normal maps).

Примітка

Subsurface Scattering, Screen Space Reflections та Volumetrics не підтримуються всередині відбиття Reflection Plane.

Розміщення – Placement

Якщо відкид тилу Backface Culling не увімкнено, то підхоплювання Reflection Plane до планарної поверхні буде ефективно захоплювати зворотну сторону поверхні.

Ви можете вручну переміщати Reflection Plane над поверхнею достатньо, щоб вона не показувалася при захопленні. Альтернативно ви можете вкласти об’єкт підлоги всередину у колекцію та вжити цю колекцію як Колекцію Видимості – Visibility Collection (інвертовано) всередині устави проби Reflection Plane.

Орієнтир – Reference

Панель – Panel:«Дані Об’єкта > Проба» – Object Data ‣ Probe

Відстань – Distance

Об’єкт проби впливає лише на освітлювання близьких поверхонь. Ця зона впливу визначається параметром Distance та масштабуванням об’єкта. Відстань впливу варіюється трохи, залежно від типу проби.

Для Reflection Planes відстань впливу є відстанню від площини. Лише поверхні, чиї нормалі вирівнюються з Reflection Plane, будуть отримувати захоплене відбиття.

Спад – Falloff

Відсоток відстані впливу, протягом якого вплив проби зникає лінеарно. Також визначає, наскільки нормалі відтінювання потребують бути вирівняними з площиною для отримання відбиттів.

Зсув Відсікання – Clipping Offset

Визначається, наскільки нижче є площина близько відсіку при захоплюванні сцени. Збільшування цього може виправляти проблеми відбиття контакту.

Колекція Видимості – Visibility Collection

У деяких випадках корисно обмежувати те, які об’єкти показуються в захопленому освітлюванні проби освітлення. Наприклад, об’єкт, що є надто близько до точки захоплення, можливо краще виключати. Це те, що робить колекція видимості. Лише об’єкти, що є в цій колекції, будуть видимі, коли ця проба буде захоплювати сцену.

Існує також варіант інвертування цієї поведінки та ефективного ховання об’єктів всередині цієї колекції.

Примітка

Це є лише опція фільтрування. Це означає, що якщо об’єкт є не видимим у ході рендера, то він не буде видимим під час рендера проби.

Показ Оглядвікна – Viewport Display

Орієнтир – Reference

Панель – Panel:«Дані Об’єкта > Показ Оглядвікна» – Object Data ‣ Viewport Display

Розмір Стрілки – Arrow Size

Розмір стрілки, що показує нормаль площини відбиття.

Показ Площини Передогляду – Show Preview Plane

Показується захоплене відбите зображення на повністю відбивній площині у 3D Огляді – 3D View.