Reflection Planes¶
Ces types spéciaux d’objet Probe sont adaptés pour lisser des surfaces planes. Ils capturent essentiellement toute la scène avec une caméra inversée.
L’utilisation de Reflection Planes est réellement lourde sur le temps de rendu car la scène doit être rendue autant de fois qu’il existe de Reflection Planes dans la vue.
À moins que Screen Space Reflection soit activé, les Reflection Planes ne fonctionnent que sur les surfaces spéculaires qui ont leur roughness autour de 0.
Si Screen Space Reflection est activé, les Reflection Planes serviront comme tampons de support. Ceci accélère le processus de traçage et complète les données manquantes de l’espace de vue. Ceci rend également la réflexion plus correcte pour les surfaces affectées qui ont un roughness moyen et des normales perturbées (à savoir des normal maps).
Note
Subsurface Scattering, Screen Space Reflections et Volumetrics ne sont pas pris en charge dans la réflexion du Reflection Plane.
Placement¶
Si Backface Culling n’est pas activé, le clipsage du Reflection Plane à la surface plane va effectivement capturer le dessous de la surface.
Vous pouvez déplacer manuellement le Reflection Plane suffisamment au dessus de la surface pour qu’il n’apparaisse pas lors de la capture. Sinon vous pouvez mettre un objet de sol à l’intérieur d’une collection et utiliser cette collection comme une Visibility Collection (inversée) dans les réglages de probe du Reflection Plane.
Référence
- Panneau
- Distance
Un objet probe influence uniquement l’éclairage des surfaces voisines. Cette zone d’influence est définie par le paramètre Distance et la mise à l’échelle d’objet. La distance d’influence varie un peu selon le type de probe.
Pour les Reflection Planes la distance d’influence est la distance depuis le plan. Seules les surfaces dont les normales sont alignées avec le Reflection Plane recevront la réflexion capturée.
- Falloff (atténuation)
Pourcentage de la distance d’influence sur laquelle l’influence d’une sonde diminue linéairement. Définit également le niveau d’alignement des normales d’ombrage avec le plan pour recevoir les réflexions.
- Clipping Offset
Définit a quel niveau est le plan de coupe de près sous le plan de réflexion lors de la capture de la scène. L’augmentation de cette valeur peut résoudre des problèmes de contact de réflexion.
- Collection de visibilité
Parfois, c’est utile de limiter quels objets apparaissent dans l’éclairage capturé de la sonde de lumière. Par exemple, il serait mieux d’exclure un objet qui est trop proche d’un point de capture. C’est ce que la collection de visibilité (visibility collection) fait. Seuls les objets qui sont dans cette collection seront visibles quand cette sonde capturera la scène.
Il existe également une option pour inverser ce comportement et cacher effectivement les objets dans cette collection.
Note
C’est seulement une option de filtrage. Ce qui signifie que si un objet n’est pas visible au moment du rendu, il ne sera pas visible pendant le rendu de l’investigation.
Note
En raison d’une limitation, les dupli-objects ne peuvent pas être masqués en utilisant cette option.
Affichage de la fenêtre¶
Référence
- Panneau
- Influence
Afficher les limites d’influence dans la vue 3D.
- Arrow Size
Taille de la flèche montrant la normale du plan de réflexion.
- Show Preview Plane
Montre l’image réfléchie capturée sur un plan complètement réflexif dans la Vue 3D.